D3のHiep君のナノＳｉバルブデバイスにおける逆スピンバルブ効果の観測に関する研究成果がJournal of Applied Physicsに掲載されました。
Duong Dinh Hiep, Masaaki Tanaka and Pham Nam Hai, “Inverse spin-valve effect in nanoscale Si-based spin-valve devices”, J. Appl. Phys. 122, 223904 (2017).
今回の論文はJAP学術誌のトップクラス論文としてFeatured Articleに選べられました。
さらに、米国物理協会(American Institute of Physics)のScience Highlightにも選べられ、解説記事が掲載されました。
最新ニュース
-
JST NEXUS ベトナム「半導体」プロジェクト…
-
清華大学プログラムの 陳 彦楷 君、IGP(A)の…
-
Sheraton Hanoi Westホテルで開催…
-
長崎県ので開催されたSSDM2026国際学会でM2…
アーカイブ
クイックアクセス
