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論文掲載：BiSbの赤外領域の光学定数の測定

BiSbトポロジカル絶縁体の赤外領域における光学定数の測定に関する研究成果がOptics Letters誌に掲載されました。

 Hajime Nishiyama, Pham Nam Hai, Tomohiro Amemiya, Shun Hashiyada, and Yukio Kawano, “Infrared optical constants n, κ, and absorption of topological insulator BiSb thin films determined by the reflectance-transmittance technique”, Opt. Lett. 51, 1864 (2026).

BiSbのバンドギャップが非常に小さいことから、赤外領域の検出材料として期待されている。しかし、BiSbの赤外領域における光学定数の情報が不足しているため、今回に透過・反射法を用いて、BiSbの赤外領域における光学定数n, κの測定を行った。

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